[发明专利]服务器的内存测试系统及方法无效

专利信息
申请号: 201110173062.9 申请日: 2011-06-24
公开(公告)号: CN102841831A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 谭杰君;林玉龙;董华 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种服务器的内存测试系统包括:电压调整模块,用于将该内存的SSTL电压在该内存标准工作电压V的基础上拉高一预定值△V,使该SSTL电压的值为V+△V,以及将该SSTL电压在所述标准工作电压V的基础上拉低所述预定值△V,使该SSTL电压的值为V-△V;数据读写模块,用于向内存中写入一段预设的数据,然后再从该内存中读出该写入的数据,以对该内存进行数据读写操作;及检测分析模块,用于读取内存的ECC寄存器中的计数值,并根据该计数值判断内存进行数据处理的稳定性是否良好。本发明还提供一种服务器的内存测试方法。利用本发明可以对内存在正常运行环境下进行数据处理的稳定性作出有效的判断。
搜索关键词: 服务器 内存 测试 系统 方法
【主权项】:
一种服务器的内存测试方法,其特征在于,该方法包括:第一电压调整步骤,将该内存的SSTL电压在该内存标准工作电压V的基础上拉高一预定值△V,使该SSTL电压的值为V+△V;第一数据读写步骤,向内存中写入一段预设的数据,然后从该内存中读出该写入的数据,以对该内存进行一次数据读写操作;第二电压调整步骤,将所述内存的SSTL电压在所述标准工作电压V的基础上拉低所述预定值△V,使该SSTL电压的值为V‑△V;第二数据读写步骤,向内存中再次写入所述预设的数据,然后从该内存中读出该写入的数据,以对该内存再进行一次数据读写操作;及检测分析步骤,读取内存的ECC寄存器中的计数值,并根据该计数值判断内存进行数据处理的稳定性是否良好。
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