[发明专利]基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法

摘要

基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率有待提高的问题，它包括步骤一、把测试数据进行压缩；步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三、在测试时通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四、用测试数据对SOC进行测试；步骤一的压缩过程包括：步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集TD进行划分；步骤一二、选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码；步骤一四、整合成压缩后的的测试向量。用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。

主权项

基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，它包括如下步骤：步骤一、把测试数据进行压缩；步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三、通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四、用测试数据对SOC进行测试；其特征在于步骤一的压缩过程如下：步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集TD进行划分，用测试子向量的形式表示测试向量集合；步骤一二、对每一个子向量集使用基于最大度顶点的近似团划分算法，根据测试片段的相容性将测试片段分组，每个组中向量个数最多的重复率最高，选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码，输入的待编码的向量和参考向量一致，编码为“0”；输入的待编码的向量和参考向量相差连续两位，根据所选择的位掩码的种类确定，编码为“10”+掩码位置+掩码值；其余情况，编码为“11”+原始向量；步骤一四、把编码后的测试向量进行整合，整合成压缩后的测试向量。