[发明专利]光发射组件测试工装及其应用电路

摘要

本发明公开了一种光发射组件测试工装及其应用电路，涉及光通信领域，尤其是一种用于测试光发射组件性能的工装。本发明旨在克服现有光发射组件测试技术的不足提供一种完整、独立的光发射组件测试工装及其应用电路。本发明的设计要点是：光发射组件测试工装主要包括微处理器单元、射频信号输入接口单元、光发射组件驱动单元等；微处理器单元用于控制整个测试工作的控制，采集测试参数；所述光发射组件驱动单元向被测试光发射组件提供工作必要的调制电流与偏置电压信号。光发射组件测试工装与数据采集分析存储单元、信号发生器与测试仪器构成光发射组件测试电路。本发明主要用于光发射组件工作性能与参数的测试、管理。

主权项

光发射组件测试工装，其特征在于，包括外部信号接口单元、微处理器单元、射频信号输入接口单元、光发射组件驱动单元、光发射组件匹配单元、测试口与供电单元；所述供电单元用于向微处理器单元与光发射组件驱动单元供电，供电单元还通过测试口提供被测试光发射组件电源；微处理器单元用于采集被测试光发射组件输出的反映光功率大小的信号，根据被测试光发射组件输出的反映光功率大小的信号调整偏置电压信号与调制电流控制信号大小，并向光发射驱动单元输出偏置电压信号与调制电流控制信号； 所述光发射组件驱动单元通过射频信号输入接口单元接收外部输入的差动射频信号，光发射组件驱动单元用于将接收的射频信号转换为调制电流，根据微处理器单元输出的调制电流控制信号调整调制电流大小，再通过光发射组件匹配单元将调制电流传输给测试口；光发射组件驱动单元还用于接受微处理器单元输出的偏置电压信号，并将偏置电压信号转换为偏置电流，并向测试口输出偏置电流，同时向微处理器单元输出偏置电流监测信号；微处理器单元与外部信号接口单元有信号交换；所述测试口具有调制电流输出接口、偏置电流输出接口、被测试光发射组件供电接口与反映光功率大小的信号接收接口；测试口用于将所述的调制电流与所述的偏置电流输出给被测试光发射组件，还用于给被测试光发射组件供电，并将被测试光发射组件输出的反映光功率大小的信号反馈给微处理器单元。