[发明专利]一种基于线性反馈移位寄存器的可控测试向量发生器

摘要

本发明公开了一种基于线性反馈移位寄存器的可控测试向量发生器包括三部分：1、由计数器和存储器组成的控制码序列产生部分；2、一个内接型线性反馈移位寄存器组成的顺序伪随机测试向量序列产生部分；3、n-1位输入或非门NOR和一个异或门XORfb构成的反馈网络部分。根据所需要产生的测试向量，得出控制码序列存储在存储器中用于控制内接型线性反馈移位寄存器的运行，使其顺序或跳变输出伪随机序列作为测试向量。本发明在内接型线性反馈移位寄存器的基础上仅增加了一个控制码存储器、计数器、n-1位输入或非门NOR和一个异或门XORfb构成的反馈网络部分以及一个控制异或门XORCTRL，硬件开销小，测试成本低。

主权项

一种基于线性反馈移位寄存器的可控测试向量发生器，包括一由n个依次串联D触发器D1～n和n‑1个异或门XOR1～n‑1构成的内接型线性反馈移位寄存器，其特征在于，还包括：一个n‑1位输入或非门NOR和一个异或门XORfb构成的反馈网络，或非门NOR的n‑1位输入端分别接D触发器D1～n‑1的输出端Q1～n‑1，异或门XORfb的两个输入端分别接或非门NOR的输出端和D触发器Dn输出端Qn；反馈网络中的异或门XORfb的输出端分别接内接型线性反馈移位寄存器中的n‑1个异或门XOR1～n‑1的一个输入端，内接型线性反馈移位寄存器中的n‑1个异或门XOR1～n‑1的另一个输入端分别接D触发器D1～n‑1的输出端Q1～n‑1，内接型线性反馈移位寄存器中的n‑1个异或门XOR1～n‑1的输出C1，C2，…，Cn‑1分别作为D触发器D2～n的D端输入；一存储器和一计数器，存储器用于存放测试向量集的控制码序列，计数器用来控制读取存储器地址，存储器每输出一位控制码，计数器就指向存储器中的下一位控制码，直到存储器中的所有控制码全部输出之后，又回到存储器地址的第一位，指向控制码序列的第一位；一个控制异或门XORCTRL，用于控制内接型线性反馈移位寄存器输出测试向量，其一个输入端接存储器输出，另一个输入端接反馈网络中的异或门XORfb的输出端；当存储器输出的一位控制码为0时，控制异或门XORCTRL的输出同异或门XORfb的输出，内接型线性反馈移位寄存器顺序输出伪随机序列，当存储器输出的一位控制码为1时，控制异或门XORCTRL的输出与异或门XORfb的输出相反，内接型线性反馈移位寄存器跳变输出伪随机序列，而存储器中一位或多位控制码对应一个测试向量，从而在存储器输出一位或多位控制码后得到内接型线性反馈移位寄存器输出的一个伪随机序列为一个测试向量。