[发明专利]用于基于IR辐射的温度测定的方法和基于IR辐射的温度测量设备有效
| 申请号： | 201110073043.9 | 申请日： | 2011-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN102221410A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | M·斯特拉特曼;S·欣克尔;D·奥尔;P·查恩;A·梅塞施米德 | 申请（专利权）人： | 特斯托股份公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 沈英莹 |
| 地址： | 德国伦*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基于 ir 辐射 温度 测定 方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
用于基于IR辐射对物体(7)进行温度测定的方法，其特征在于，使一基准元件(3)处于与物体(7)传热的接触，其中基准元件(3)在其表面上包括具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)；单独地检测由基准元件(3)的第一区域(4)发出的第一IR辐射(9)、由基准元件(3)的第二区域(5)发出的第二IR辐射(10)和由物体(7)的表面区域(12)发出的第三IR辐射(11)；对检测出的各IR辐射(9、10、11)分别确定至少一个测量值，并且由确定的各测量值求得物体的表面区域(12)的发射率和物体(7)的反射的IR辐射的部分。
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