[发明专利]发光分光分析装置有效
| 申请号： | 201110068383.2 | 申请日： | 2011-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN102221545A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | 土生俊也;河藤荣三 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67;G01J3/443 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种发光分光分析装置，其可抑制成分元素的光谱强度的不均一。该发光分光分析装置将蓄积在蓄放电单元中的能量供给至电极与试料之间的间隙中而产生脉冲发光，该发光分光分析装置包括：对在脉冲发光之前充电至所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元；以及对在脉冲发光之后残留于所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元。判定所检测的光是否为利用蓄积在蓄放电单元中的充分的能量来发出的光。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 分光 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种发光分光分析装置，将蓄积在蓄放电单元中的能量供给至电极与试料之间的间隙中而产生脉冲发光，该发光分光分析装置的特征在于其包括：对在脉冲发光之前充电至所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元；以及对在脉冲发光之后残留于所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元。
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