[发明专利]一种颗粒粒度测量仪

摘要

本发明公开了一种颗粒粒度测量仪，由激光光源、非单色照明光源、显微物镜、半透半反镜、面阵数字相机或摄像机、样品池和透镜组合成两光路结构，一路是从第一照明光源发出的光照射到第一样品池中的样品，显微物镜将放大的图像经过半透半反镜后到面阵数字相机或摄像机；另一路是激光光源发出的光照射到第二样品池中的样品，经透镜将放大的图像经过半透半反镜后到面阵数字相机或摄像机。本发明的有益效果是利用同一个数字相机将多种测量方法融合在一起，用简单结构扩大了粒度仪的粒度测量上下限，使得基于本发明的粒度仪的测量范围可以从纳米级到数百微米级，满足宽范围粒度分布测量的要求，并可同时用图像法给出颗粒的形貌参数。

主权项

一种颗粒粒度测量仪，其特征在于，该颗粒粒度仪由激光光源、非单色照明光源、显微物镜、半透半反镜、面阵数字相机或摄像机、样品池和透镜组合成两光路结构，一路是从第一照明光源发出的光照射到第一样品池中的样品，第一样品池位于显微物镜的观察面上，显微物镜将放大的图像经过半透半反镜后到面阵数字相机或摄像机；另一路是激光光源发出的光照射到第二样品池中的样品，经透镜将放大的图像经过半透半反镜后到面阵数字相机或摄像机；在图像法测量时，置于第一样品池下的第一非单色照明光源发光，布置在显微物镜周围的第二非单色照明光源不发光，作为透射法图像测量；置于第一样品池下的第一非单色照明光源不发光，布置在显微物镜周围的第二非单色照明光源发光作为反射法图像测量；在动态光散射法测量时，由激光光源发出的激光束照射到样品池中的样品颗粒，颗粒的前向动态散射光被透镜接收后经半透半反镜到面阵数字相机或摄像机，面阵数字相机或摄像机连续记录颗粒的动态光散射信号，并送入计算机，根据颗粒的布朗运动理论和Stocks‑Einstein公式进行处理，得到颗粒的粒度分布；或控制相机的快门速度，使得拍摄到的图像上由于长时间曝光出现颗粒因布朗运动造成的散射光点的运动轨迹线，而不是光点，然后送入计算机，根据颗粒的布朗运动理论和Stocks‑Einstein公式进行处理，得到颗粒的粒度分布；在静态光散射法测量时，由激光光源发出的激光束照射到样品池中的样品颗粒，颗粒的前向静态散射光被透镜接收后经半透半反镜到面阵数字相机或摄像机，面阵数字相机或摄像机将测得的颗粒静态散射信号送入计算机，根据Mie’s光散射理论进行处理，得到颗粒的粒度分布。