[发明专利]一种激光近场强度分布测量装置无效
| 申请号： | 201110053653.2 | 申请日： | 2011-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN102175310A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 田英华;叶一东;李国会 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621900 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种激光近场强度分布测量装置，所述装置中的CCD底座、衰减片组框、缩束镜头支架依次固定于底座上，滤光片框通过螺纹与CCD的接口直接连接，衰减片组框的一端通过圆形凸起与滤光片框连接，另一端通过螺纹与缩束镜头连接。不同口径的激光经过本发明中的倍率合适的缩束镜头缩束为与CCD像面尺寸相匹配的细光束，再经过倍率合适的衰减片的组合，将激光强度衰减至CCD可接受的范围，通过相应波长的窄带滤光片后，仅有被测波长激光进入CCD，CCD直接测量被测激光的近场强度分布，确保测量结果反映被测激光的真实近场特性。本发明的激光近场强度分布测量装置结构简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 近场 强度 分布 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种激光近场强度分布测量装置，其特征在于：所述的测量装置含有CCD（1）、窄带滤光片（2）、衰减片（3）、缩束镜头（4）、衰减片组框（5）、CCD底座（6）、缩束镜头支架（7）、滤光片框和底座（8）；所述衰减片组框（5）由数个衰减片框组成； 所述CCD底座（6）、衰减片组框（5）、缩束镜头支架（7）依次固定于底座（8）上；CCD（1）与CCD底座（6）连接，缩束镜头（4）与缩束镜头支架（7）连接；窄带滤光片（2）置于滤光片框内，滤光片框通过螺纹与CCD（1）的接口直接连接；衰减片置于衰减片组框（5）中，衰减片组框（5）的一端通过圆形凸起与滤光片框连接，另一端通过螺纹与缩束镜头（4）连接；CCD（1）、窄带滤光片（2）、衰减片（3）、缩束镜头（4）均为同心，且中心高度与被测激光光轴高度相同。
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