[发明专利]通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法无效
申请号: | 201110034999.8 | 申请日: | 2011-01-28 |
公开(公告)号: | CN102146582A | 公开(公告)日: | 2011-08-10 |
发明(设计)人: | 福田真行;福田淳;福田善友 | 申请(专利权)人: | 硅电子股份公司 |
主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B29/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 过晓东 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明提供一种通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法。根据本发明的方法的特征在于使用不包含平均粒径小于250μm的颗粒的硅作为熔化原料。 | ||
搜索关键词: | 通过 czochralski 法制 造不含位错 单晶硅 方法 | ||
【主权项】:
通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法,其特征在于包括在熔化之前去除包含在原料硅中的平均粒径小于250μm的颗粒的精细颗粒去除步骤。
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