[发明专利]通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法无效

专利信息
申请号: 201110034999.8 申请日: 2011-01-28
公开(公告)号: CN102146582A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 福田真行;福田淳;福田善友 申请(专利权)人: 硅电子股份公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 过晓东
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明提供一种通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法。根据本发明的方法的特征在于使用不包含平均粒径小于250μm的颗粒的硅作为熔化原料。
搜索关键词: 通过 czochralski 法制 造不含位错 单晶硅 方法
【主权项】:
通过Czochralski法制造不含位错的单晶硅的方法,其特征在于包括在熔化之前去除包含在原料硅中的平均粒径小于250μm的颗粒的精细颗粒去除步骤。
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