[发明专利]连续激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置及方法有效
| 申请号： | 201110001200.5 | 申请日： | 2011-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN102169016A | 公开（公告）日： | 2011-08-31 |
| 发明（设计）人： | 谭智勇;曹俊诚;黎华;郭旭光;韩英军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种连续激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置及方法，该装置包括光源部分、光路部分和探测部分；光源部分包括冷头、安装于冷头内的热沉、安装于热沉上的太赫兹量子级联激光器、安装于冷头上用以使太赫兹光射出的聚乙烯窗片；光路部分包括第一离轴抛物镜和第二离轴抛物镜；第一离轴抛物镜收集经聚乙烯窗片射出的太赫兹光；第二离轴抛物镜接收经第一离轴抛物镜反射的太赫兹光；探测部分包括热探测器和示波器；热探测器接收第二离轴抛物镜反射的太赫兹光，并产生相应的电压信号；示波器对电压信号进行提取和显示获得电压信号幅度。本发明光路部分和探测部分可以在常温下进行测量，便于安装和测试。 | ||
| 搜索关键词： | 连续 激射型太 赫兹 量子 级联 激光器 功率 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种连续激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置，其特征在于：包括光源部分(A)、光路部分(B)和探测部分(C)；所述光源部分(A)包括冷头(1)、安装于所述冷头(1)内的热沉(2)、安装于热沉(2)上的太赫兹量子级联激光器、以及聚乙烯窗片(3)；所述聚乙烯窗片(3)安装于所述冷头(1)上使所述太赫兹量子级联激光器发射出的太赫兹光通过聚乙烯窗片(3)射出；所述光路部分(B)包括第一离轴抛物镜(4)和第二离轴抛物镜(5)；所述第一离轴抛物镜(4)收集经所述聚乙烯窗片(3)射出的太赫兹光，并使该太赫兹光反射至第二离轴抛物镜(5)；所述第二离轴抛物镜(5)接收经所述第一离轴抛物镜(4)反射过来的太赫兹光，并使该太赫兹光反射至所述探测部分(C)；所述探测部分(C)包括热探测器(6)和示波器(7)；所述热探测器(6)用以接收第二离轴抛物镜(5)反射过来的太赫兹光，并产生相应的电压信号；所述示波器(7)用以对所述电压信号进行提取和显示，得到所述电压信号的幅度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所，未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110001200.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
