[发明专利]用于确定不同技术系统的坐标系统之间的偏差的方法有效

专利信息
申请号: 201080063887.9 申请日: 2010-02-15
公开(公告)号: CN102917635A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 马利奥·阿布拉罕;约阿希母·麦奇尼格;约翰尼斯·阿格滕;马利奥·克拉夫基 申请(专利权)人: 威孚莱有限公司
主分类号: A61B3/113 分类号: A61B3/113;A61F9/008
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 宋颖娉;宋志强
地址: 德国埃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定多种技术系统的坐标系统之间的偏差的方法,包括以下步骤:确定测试对象(26)的参考特征(32)在所述技术系统中第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置;将至少一个测试特征(34)附到所述测试对象,其中所述测试特征被附到所述技术系统中第二技术系统的坐标系统中根据所确定的所述参考特征(32)的坐标位置而建立的坐标位置处;确定所述至少一个测试特征(34)和/或根据所述至少一个测试特征导出的至少一个特征(36)在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置;并且至少基于以下内容确定所述第一技术系统的坐标系统与所述第二技术系统的坐标系统之间的偏差:a)所确定的所述至少一个测试特征(34)和/或根据所述至少一个测试特征导出的至少一个特征(36)在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置,和b)所述参考特征(32)在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置。
搜索关键词: 用于 确定 不同 技术 系统 坐标 之间 偏差 方法
【主权项】:
一种用于确定不同技术系统的坐标系统之间的偏差的方法,包括:确定测试对象(26)的参考特征(32)在所述技术系统中第一技术系统(24)的坐标系统(u,v)中的坐标位置;将至少一个测试特征(34)附到所述测试对象,其中所述测试特征被附到所述技术系统中第二技术系统(18,22)的坐标系统(x,y)中根据所确定的所述参考特征的坐标位置而确定的坐标位置处;确定所述至少一个测试特征和/或从所述至少一个测试特征导出的至少一个特征(36)在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置;至少基于以下内容确定所述第一技术系统的坐标系统与所述第二技术系统的坐标系统之间的偏差:(a)所确定的所述至少一个测试特征和/或从所述至少一个测试特征导出的至少一个特征在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置,和(b)所述参考特征在所述第一技术系统的坐标系统(u,v)中的坐标位置。
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