[发明专利]结合内外校准法的分析物定量多重微阵列有效

专利信息
申请号: 201080060201.0 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN102713620A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 彼得·李;珍妮弗·汉森;凯特·史密斯 申请(专利权)人: SQI诊断系统有限责任公司
主分类号: G01N33/53 分类号: G01N33/53;C40B30/00;G01N33/543;G01N33/564;C40B30/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;张晶
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 发明涉及用于分析物量化的多重微阵列和方法。尤其是,本发明涉及改进的方法,该方法根据参考标准曲线对测试样本中目标分析物浓度进行标准化,该参考标准曲线是从已知浓度目标分析物的经验证、核准和公认的参考标准中导出的。本发明还涉及用于对确定正常化标准和控制的置信度进行同时测量的方法和检查。
搜索关键词: 结合 内外 校准 分析 定量 多重 阵列
【主权项】:
一种用于量化测试样本中的一个或多个分析物的方法,其包括:(a)提供多个离散反应基底,每个反应容器具有印制在其上的微阵列,所述微阵列包括:含有多个校准点的校准矩阵,每个校准点含有预定量的校准化合物,其中每个校准点对应于所述校准化合物的理论浓度;和分析物捕捉矩阵,其包含多个捕捉点,每个捕捉点含有预定量的试剂,所述试剂可选择地结合至所述分析物;(b)将预定体积的测试样本应用于所述离散反应基底中的一个;(c)提供多个参考标准,每个参考标准具有已知浓度且每个参考标准含有预定量的每个所述分析物;(d)将预定体积的每个参考标准应用于所述离散反应基底中的一个;(e)在来自步骤(b)和步骤(d)的每个离散反应基底上:(i)应用被标记的报告化合物,其中所述被标记的报告化合物提供可测量的信号强度,所述信号强度与结合至每个点的分析物或者校准化合物的量成正比;(ii)测量所述微阵列内的每个点的信号强度值;(iii)对步骤(b)中的反应基底生成第一校准曲线,并对步骤(d)中的反应基底生成第二校准曲线,在每种情况下,所述校准曲线是通过将曲线与图表进行拟合而制备的,所述图表将信号强度值与校准化合物理论浓度进行对比;(iv)使用所述第一校准曲线,确定所述测试样本的第一分析物当量浓度,并且使用所述第二校准曲线,确定每个所述参考标准的第二分析物当量浓度;(f)通过将曲线与图表进行拟合来生成参考标准化曲线,所述 图表将所述第二分析物当量浓度与每个参考标准的已知浓度进行对比;和(g)使用所述参考标准化曲线,对所述测试样本的第一分析物当量浓度进行标准化,以获得修正后的分析物浓度。
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