[发明专利]回焊镀Sn构件有效
申请号: | 201080054205.8 | 申请日: | 2010-10-26 |
公开(公告)号: | CN102666938A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 前田直文 | 申请(专利权)人: | JX日矿日石金属株式会社 |
主分类号: | C25D7/00 | 分类号: | C25D7/00;C25D5/50;H01R13/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 庞立志;李炳爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供抑制晶须产生、同时降低了插拔力的回焊镀Sn构件。该回焊镀Sn构件中,在由Cu或Cu基合金构成的基材表面形成有回焊Sn层,该回焊Sn层表面的(101)面的取向指数为2.0以上且5.0以下。 | ||
搜索关键词: | 回焊镀 sn 构件 | ||
【主权项】:
一种回焊镀Sn构件,其中,在由Cu或Cu基合金构成的基材表面形成有回焊Sn层,该回焊Sn层表面的(101)面的取向指数为2.0以上且5.0以下。
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