[发明专利]计量配料装置，密相输送装置以及输入粉尘状松散材料的方法

摘要

本发明涉及计量配料装置和密相输送装置，所述密相输送装置用于将轻质的松散材料从供应设备(B，SG)经由输送管(FR1，FR2，FR3)计量输送到使用者。闸门(S)包括具有汇入计量配料容器(DB)的粉尘流调节装置(FI4)的卸载设备(AE/S)，所述卸载设备(AE/DB)包括多个分别汇入输送管(FR1，FR2，FR3)的粉尘流调节装置(FI1，FI2，FI3)。所述计量配料装置的压力调节设备耦合至闸门(S)和计量配料容器(DB)的压力测量设备(PIS1，PI2)用于调节压差(PDC1-2，PDC3-R)，并且耦合至计量配料容器卸载设备(AE/DB)和使用者的压力测量设备(PIR，PI3)，以便控制取决于第二压差调节器(PDC3-R)的计量配料容器压力(PI2)。将压力调节设备与供应设备(SG，B)的压力测量设备(PISA4)耦合，控制供应设备(B，SG)和闸门(S)之间的压差(PISA4-1)。所述压力调节设备通过操作至少可与闸门(S)相连的抽吸设备(V)来控制取决于闸门填充水平(LIS/S)和压差控制(PISA4-1)的闸门压力(PIS1)。本发明还公开了使用具有计量配料装置的密相输送装置的方法。

主权项

计量配料装置，它包括计量配料容器(DB)和至少一个布置在上游的闸门(S)，用于稳定、连续地计量输入由轻质的多分散的粒子构成的粉尘状松散材料，将其从供应设备(B，SG)在多个输送管(FR1，FR2，FR3)中输送到布置在下游的使用者，其中计量配料容器(DB)和闸门(S)分别包括卸载设备(AE/DB，AE/S)，且在各个输送管(FR1，FR2，FR3)处布置质量流‑测量探测器(FIC1，FIC2，FIC3)，所述计量配料装置具有用于调节计量配料容器(DB)和使用者之间压差的压力调节设备，其特征在于，‑用于各个输送管(FR1，FR2，FR3)的计量配料容器(DB)的卸载设备(AE/DB)包括为其指配并且汇入其中的粉尘流调节装置(FI1，FI2，FI3)，其中质量流‑测量探测器(FIC1，FIC2，FIC3)与汇入相应的输送管(FR1，FR2，FR3)的粉尘流调节装置(FI1，FI2，FI3)耦合，和‑闸门(S)的卸载设备(AE/S)经由粉尘流调节装置(FI4)汇入到计量配料容器(DB)中，其中所述压力调节设备‑用于闸门压力(PIS1)和计量配料容器压力(PI2)之间的第一压差调节(PDC1‑2)，至少与为闸门(S)指配的压力测量设备(PIS1)之一和布置在计量配料容器(DB)上的压力测量设备(PI2)耦合，‑用于计量配料容器卸载压力和使用者压力之间的第二压差调节(PDC3‑R)，与分配到计量配料容器(DB)的卸载设备(AE/DB)的压力测量设备(PI3)和使用者的压力测量设备(PIR)耦合，包括对计量配料容器(DB)和使用者之间的压差的调节，其中所述压力调节设备控制取决于至少第二压差调节(PDC3‑R)的计量配料容器压力(PI3)，和其中压力调节设备‑用于供应设备压力(PISA4)和闸门压力(PIS1)之间的第一压差控 制(PISA4‑PIS1)，与为供应设备(SG，B)指配的压力测量设备(PI‑SA4)和闸门(S)的压力测量设备(PIS1)耦合，和‑通过至少一个可与闸门(S)耦合的抽吸设备(V)的操作来控制，取决于至少一个闸门填充水平(LIS/S)的和第一压差控制(PISA4‑PIS1)的闸门压力(PIS1)。