[发明专利]基于衰减全反射的光传感器系统和感测方法有效
| 申请号： | 201080051283.2 | 申请日： | 2010-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN102597745A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | B.伊瓦尔森;M.M.迈耶斯 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G02B6/122 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 柯广华;卢江 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明名称为“基于衰减全反射的光传感器系统和感测方法”。提供一种光检测系统，用于生成并检测具有强度的电磁辐射的束。该光检测系统包括用于产生电磁辐射的束的源；以及本体，该本体是至少部分透明的并且包括本体的至少一部分上的ATR传感器层，该本体具有电磁辐射的束的入口表面、反射经入口表面透射的束的内反射表面或外反射表面、以及从第二表面反射的束离开透明本体所经过的出口表面。光检测系统还可以包括束源与本体之间的分布装置；其中该分布装置将束的强度从非均匀强度分布重新分布成基本均匀的强度分布；以及检测离开本体的电磁辐射的束的检测器。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 衰减 全反射 传感器 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于生成并检测具有强度的电磁辐射的束的光检测系统，包括：用于产生所述电磁辐射的束的源；本体，所述本体是至少部分透明的并且包括所述本体的至少一部分上的ATR传感器层，所述本体具有所述电磁辐射的束的入口表面、反射经所述入口表面透射的所述束的内反射表面、以及从所述第二表面反射的所述束离开所述透明本体经过的出口表面；位于所述束源与所述本体之间的分布装置；其中所述分布装置将所述束的强度从非均匀强度分布重新分布成基本均匀的强度分布；检测离开所述本体的所述电磁辐射的束的检测器。
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