[发明专利]地磁检测装置有效
申请号: | 201080040796.3 | 申请日: | 2010-09-22 |
公开(公告)号: | CN102510994A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 广部希世;山田幸光 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | G01C17/38 | 分类号: | G01C17/38;G01R33/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种具备能够对校准后产生的偏差进行修正的修正机构的地磁检测装置。本发明的对偏差进行修正的修正机构的特征在于,通过反复进行如下处理来求出新的基准点,即,将在从抽出的多个坐标点中的第一输出坐标点通过基准点的假想直线上移动了假想圆或假想球的半径R的距离量的坐标位置设定为标记位置,接着,将在从各输出坐标点通过标记位置的假想直线上移动了半径R的距离量的坐标位置作为新的标记位置。 | ||
搜索关键词: | 地磁 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种地磁检测装置,其特征在于,具有:磁传感器,其由两轴以上构成;控制部,其具备求出所述磁传感器的输出的基准点的校准机构、及对偏差进行修正的修正机构,在所述修正机构中,具有:抽出多个输出的坐标点的抽出步骤,其中,所述多个输出的坐标点从以所述基准点为中心的由地磁向量的大小所规定的半径R的假想圆的外缘或假想球的外缘离开且彼此位于不同的坐标位置;在从第一输出坐标点通过所述基准点的假想直线上,对从所述第一输出坐标点朝向所述基准点移动了半径R的距离量的坐标位置进行标记的第一步骤;在从第二输出坐标点通过由所述第一步骤得到的标记位置的假想直线上,对从所述第二输出坐标点朝向所述标记位置移动了半径R的距离量的坐标位置进行重新标记的第二步骤;在各输出坐标点之间依次反复进行将当前设定的标记位置依次变更为新的标记位置的所述第二步骤,并将所述标记的收敛点设定为所述磁传感器的输出的新的基准点的第三步骤。
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