[发明专利]显微镜装置及控制方法有效

专利信息
申请号: 201080039587.7 申请日: 2010-09-10
公开(公告)号: CN102483517A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 米谷信彦 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G02B21/06 分类号: G02B21/06;G02B21/26;G02B21/36
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;秦玉公
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供能够高效地进行观察的显微镜装置及控制方法。图像处理部(32)获取样本(12)的内部的、在平面形状的观察截面上的图像。驱动控制部(31)控制检流计式扫描器(15)及Z驱动部(17),使观察截面整体向使得显现在图像中的观察对象的截面变得细长的方向倾斜,当使观察截面逐渐倾斜而在观察截面中检测到观察对象的截面的端部时,以通过该端部的轴为中心,并以该轴为界使观察对象的截面没有显现一侧的观察截面的一部分向使得观察对象的截面显现的方向倾斜,从而形成弯折形状的观察截面。本发明例如能够应用于使超短脉冲激光扫描来获取图像的显微镜装置中。
搜索关键词: 显微镜 装置 控制 方法
【主权项】:
一种显微镜装置,用于观察试样,其特征在于,具有:图像获取机构,获取所述试样内部的、在平面形状的观察截面上的图像;倾斜机构,根据显现在所述图像中的观察对象的截面形状及亮度值的至少一方,使所述观察截面整体倾斜;弯折机构,根据通过所述倾斜机构使所述观察截面倾斜而获取的所述图像来确定所述观察对象的截面的端部,并以通过所述端部的轴为中心、且以所述轴为界使所述观察对象的截面没有显现一侧的所述观察截面的一部分向使得所述观察对象的截面显现的方向倾斜,从而形成在所述轴处弯折形状的所述观察截面。
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