[发明专利]电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备有效
| 申请号： | 201080038710.3 | 申请日： | 2010-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN102576200A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 辻晴之;藤井淳史;松冈秀彰 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G03G5/14 | 分类号： | G03G5/14 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种电子照相感光构件，和具有此类电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备，所述电子照相感光构件具有特定导电层和允许重复再现图像时亮区电位和残余电位较少变化。在进行将仅具有DC电压分量的-1.0kV电压连续施加至导电层1小时的试验的情况下，所述导电层的体积电阻率在试验前和试验后的值满足以下数学表达式(1)和(2)：-2.00≤(log|ρ2|-log|ρ1|)≤2.00 (1)，和1.0×108≤ρ1≤2.0×1013 (2)，其中，在所述表达式(1)和(2)中，ρ1为所述试验前测量的导电层的体积电阻率(Ω·cm)和ρ2为所述试验后测量的导电层的体积电阻率(Ω·cm)。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 照相 感光 构件 处理 设备 | ||
【主权项】：
一种电子照相感光构件，其包括：圆筒状支承体；形成在所述圆筒状支承体上的导电层，所述导电层包含粘结材料和金属氧化物颗粒，以及不含任何锑；和形成在所述导电层上的感光层；其中：当进行将仅具有DC电压分量的‑1.0kV电压连续施加至所述导电层1小时的试验时，所述导电层的体积电阻率在所述试验前和试验后的值满足以下数学表达式(1)和(2)：‑2.00≤(log|ρ2|‑log|ρ1|)≤2.00 (1)，和1.0×108≤ρ1≤2.0×1013 (2)，其中，在所述表达式(1)和(2)中，ρ1为所述试验前测量的导电层的体积电阻率(Ω·cm)和ρ2为所述试验后测量的导电层的体积电阻率(Ω·cm)。
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