[发明专利]用于确定采样率差的设备和方法有效
| 申请号： | 201080037463.5 | 申请日： | 2010-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN102484739A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 克里斯汀·施密德莫;罗兰·毕托;米夏埃尔·凯尔 | 申请（专利权）人： | 米夏埃尔·凯尔光学通讯有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李敬文 |
| 地址： | 德国埃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在实施例中，示出了用于确定第一信息信号与第二信息信号之间的采样率差的设备，所述设备包括偏移确定装置和用于基于偏移值计算采样率差的装置，其中针对第一信息信号的多个分段中的每个分段，所述偏移值确定装置确定使多个分段在时间上对准第二信息信号的相关联的偏移值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 采样率 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定第一信息信号(IS1)和第二信息信号(IS2)之间的采样率差的设备(10)，包括：偏移确定装置(20)，针对第一信息信号(IS1)的多个分段(S1(i))中的每个分段，所述偏移确定装置(20)确定相关联的偏移值(VW(i))，所述偏移值(VW(i))使所述多个分段(S1(i))在时间上与第二信息信号(IS2)对准；用于基于所述偏移值(VW(i))计算采样率差的装置(40)。
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