[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201080020647.0 申请日: 2010-04-12
公开(公告)号: CN102422144A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 神原久美子;光山训;三村智宪;万里千裕 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/75 分类号: G01N21/75;G01N35/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;於毓桢
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在要缩短生化测定的测定时间时,为了对每个项目变更测光时间,或者对每个样本变更测定时间,需要反应完成的指标,但迄今为止还没有判断反应完成的方法。在试样中所含的测定对象物质的测定中,使用随着时间推移而变化的测量值来计算近似式的参数,根据该参数的收敛程度来判断反应的收敛程度,并使用判断为反应收敛的时间点的参数来计算反应完成时间点的测定值。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,其特征在于,具备:存储机构,存储与每个测定项目或每个样本对应的、测定值的时间变化的近似式;参数最佳化机构,在每个规定时间的实测值的测定时,将所述近似式的参数最佳化;和判定机构,判定由所述参数最佳化机构进行了最佳化的参数的变化是否在预先规定的范围内。
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