[发明专利]用于使用光传感器输出信号波动来进行粒子表征的方法和系统无效
| 申请号： | 201080014381.9 | 申请日： | 2010-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN102369425A | 公开（公告）日： | 2012-03-07 |
| 发明（设计）人： | 付永吉;迪帕克·阿亚加里 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 使用光传感器输出信号的光波动分量来进行粒子表征的方法和系统。光波动分量的使用使得能够在无需以多个波长或者多个角度进行测量的情况下并且使用相对少量的计算来进行粒子表征(例如，提供与粒子尺寸、类型和置信度有关的信息)。该方法和系统允许将实时的空气传播粒子表征合并到便携式监视器中。在一些实施例中，该方法和系统还通过确定粒子密度信息，使用输出信号来进一步表征粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 使用 传感器 输出 信号 波动 进行 粒子 表征 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于粒子表征的系统，包括：信号处理器；以及光传感器，与所述信号处理器通信耦合，其中，所述信号处理器对从所述光传感器接收到的输出信号的光波动分量进行隔离，并使用所述光波动分量来确定粒子尺寸信息。
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