[发明专利]分析器和用于清洗分配探针的方法

摘要

本发明的分析器(1)包括：读取部(23)，用于存储或获取包括样本的样品类型的样本信息，以及样本容器信息；液面检测部(51)，用于检测样本的液面和/或界面；分配设备(5)，用于分配样本；清洗设备(6)，用于清洗分配探针(50)；计算部，用于基于由读取部(23)存储或获取的样品类型、样本吸取位置和样本容器信息，以及通过液面检测部(51)检测的样本的液面和/或界面信息，计算分配探针(50)的外壁面的污染附着范围；和清洗控制部(200)，用于基于污染附着范围来控制清洗范围。

主权项

一种分析器，能够分析作为样本的不同样品，所述分析器光学地分析所述样本和试剂的反应物，其特征在于，所述分析器包括：分析信息获取部，用于存储或获取样本信息和样本容器信息，所述样本信息包括所述样本的样品类型和样本吸取位置；液面估计部，用于估计所述样本的液面和/或界面；分配部，用于使用分配探针来分配所述样本；清洗部，用于清洗所述分配探针；计算部，用于基于通过所述分析信息获取部存储或获取的所述样品类型、所述样本吸取位置以及所述样本容器信息、以及通过所述液面估计部估计的所述样本的液面和/或界面信息，计算所述分配探针的外壁面的污染附着范围；和清洗控制部，用于基于由所述计算部计算的所述分配探针的所述外壁面的所述污染附着范围，控制所述分配探针的清洗范围。