[发明专利]吸收功率测定方法、局部平均吸收功率测定方法、局部平均吸收功率计算装置、局部平均吸收功率计算程序有效

专利信息
申请号: 201080010361.4 申请日: 2010-01-29
公开(公告)号: CN102341697A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 井山隆弘;大西辉夫 申请(专利权)人: 株式会社NTT都科摩
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00;G01R29/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 于小宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种对具有多个天线的无线设备的局部平均吸收功率进行测定的简单的方法。在本发明的局部平均吸收功率测定方法中包括单独测定步骤和计算步骤。在单独测定步骤中测定多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位。在计算步骤中,一边改变加权一边求局部平均吸收功率候选。具体地,在合成子步骤中,对在单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位加上任意的加权之后进行合成。在局部平均吸收功率候选计算子步骤中,基于在合成子步骤中得到的合成电场或合成磁场来计算三维空间的吸收功率分布,并求局部平均吸收功率候选。在局部平均吸收功率选定步骤中,将在局部平均吸收功率候选中最大的候选作为无线设备的局部平均吸收功率。
搜索关键词: 吸收 功率 测定 方法 局部 平均 计算 装置 程序
【主权项】:
一种局部平均吸收功率测定方法,在用于模拟人体的电磁特性的模型内部设置电磁场探头,并通过电磁场探头测定从无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度,其中,所述无线设备具有用于辐射同一频率的电波的多个天线,该局部平均吸收功率测定方法包括:单独测定步骤,在距离所述模型的表面规定的距离的面上以二维配置的测定点,测定所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位;以及计算步骤,其包括对在所述单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位进行预先决定的加权后进行合成的合成子步骤;以及基于在所述合成子步骤中得到的合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布,并且求与所述加权对应的吸收功率分布中的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候选的局部平均吸收功率候选计算子步骤,并且一边改变所述预先决定的加权一边重复进行所述合成子步骤和所述局部平均吸收功率候选计算子步骤,从而得到多个局部平均吸收功率候选。
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