[发明专利]自动分析装置无效

专利信息
申请号: 201080008371.4 申请日: 2010-02-24
公开(公告)号: CN102326086A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 三村智宪;牧野彰久;足立作一郎 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/04 分类号: G01N35/04;G01N35/10
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;於毓桢
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种不会使装置大型化,可高精度且低成本地进行多个项目的检查的自动分析装置。具有测光机构(70)和流动系分析机构(40a)、(40b)的多个项目的检查机构的自动分析装置(1),具备共用盘(反应和前处理兼用盘)(20),在该共用盘(20)上配置有固定于共用盘(20)的固定容器(21)和可装卸地设置的一次性容器(22)。由此,可谋求装置的紧凑化,且可根据检查项目,分别将固定容器(21)用作洗涤后反复使用的高精度的容器,将一次性容器(22)用作一次性的低成本的容器。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,具有:进行试样与试剂的反应和/或利用前处理液进行所述试样的前处理的容器、配置有所述容器的反应和前处理兼用盘、在所述容器中分注所述试样的试样分注机构、及基于所述反应的多个项目的检查机构,所述自动分析装置的特征在于,关于所述反应和前处理兼用盘,作为所述容器,配置有固定于所述反应和前处理兼用盘的固定容器、及可装卸地设置于所述反应和前处理兼用盘的一次性容器。
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