[实用新型]基于矩阵开关的并行测试系统无效
| 申请号： | 201020687810.6 | 申请日： | 2010-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN201935972U | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 龚祖杰;贺达 | 申请（专利权）人： | 芯通科技（成都）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/30 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 梁田 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公布了基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。本实用新型将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 矩阵 开关 并行 测试 系统 | ||
【主权项】：
基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。
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