[实用新型]组合式光寻址电位传感器测试平台

摘要

提供一种“组合式光寻址电位传感器(LAPS)测试平台”，包括主体框架1、光源控制器2、光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、电极固定插板5、门板6，六个部分。LAPS芯片插板4的设计，采用了将LAPS芯片与储液空间合二为一的方法；光源阵列的设计，采用了将光源与光源控制器分离的方案；测试平台的组合方式，采用了插装的方式，将光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、以及电极固定插板5通过主体框架1内插槽8、9、10，插装并固定在主体框架1内。本实用新型为LAPS提供液态电化学测试体系，解决了光源阵列与LAPS敏感单元阵列的匹配和对准问题。并且，当LAPS芯片的敏感单元阵列结构发生变化时，无须更改测试平台整体结构，满足LAPS对测试平台灵活性的要求。

主权项

组合式光寻址电位传感器测试平台，包括主体框架、光源控制器、光源阵列插板、LAPS芯片插板、电极固定插板、门板，六个部分，其特征为：主体框架内，光源控制器、光源阵列插板、LAPS芯片插板、电极固定插板由下至上依次放置，主体框架左右两侧的内壁分别设有三行平行于底面的内凹插槽，由下向上依次为光源板插槽、芯片板插槽、电极板插槽，光源阵列插板、LAPS芯片插板、电极固定插板可依次由前向后插入主体框架内部；主体框架的前部设有垂直于底面的内凹门板插槽，门板沿门板插槽从上向下插入；主体框架后部设有待测液体进/出通孔和LAPS芯片引线通孔；光源阵列插板的特征为，光源插孔呈阵列排列；LAPS芯片插板中部设有内凹的台阶式结构，由上至下依次为储液池、敏感单元接触通孔、LAPS芯片，且敏感单元接触通孔位于储液池底部、呈阵列排列；电极固定插板中部设有参比电极插孔、对电极插孔；光源控制器上表面设有光源引线插孔、前面设有串口连接插口、电源插口；门板的下部设有电源引线口和串口引线口。