[实用新型]一种低频方波周期检测系统有效

专利信息
申请号: 201020597672.2 申请日: 2010-11-04
公开(公告)号: CN201897522U 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 王海峰;马燕生;熊涛;范洪涛;董礼港;杨谦;刘净瑜 申请(专利权)人: 北京卫星制造厂
主分类号: G01M1/10 分类号: G01M1/10
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 100190*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种低频方波周期检测系统,包括接近开关、光电隔离、信号整形、FPGA信号采集单元、ARM数据处理单元以及FAGA与ARM并行总线通讯等几部分。接近开关信号经过光电隔离和信号整形后进入FPGA,FPGA通过一系列的处理后,将采样到的周期值保存到RAM区,并发送读取信号给ARM处理器,ARM处理器得到读取信号后,根据FPGA的状态位,到指定地址通过总线方式读取周期值,ARM处理器经过一系列的计算处理后,通过串口发送到PC机。该方法适用于对低频方波信号的高精度检测,具有检测精度高、系统设计灵活性强等特点。
搜索关键词: 一种 低频 方波 周期 检测 系统
【主权项】:
一种低频方波周期检测系统,其特征在于包括:光电隔离电路、信号整形电路、FPGA信号采集单元、ARM数据处理单元以及计算机,经由接近开关输出的低频方波信号先经过光电隔离电路进行信号隔离,隔离后的低频方波信号由信号整形电路进行整形处理,FPGA对经过整形处理的低频方波信号进行周期计数,ARM系统对FPGA的周期计数值进行处理计算得到低频方波的周期值,计算机将该周期值进行存储;所述的光电隔离电路由限流电阻、光电耦合芯片、限压电阻和电容组成,在接近开关和光电耦合芯片之间接限流电阻,光电耦合芯片输出端与供电电压之间接限压电阻,在光电耦合芯片输出端与地之间接电容。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星制造厂,未经北京卫星制造厂许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020597672.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top