[实用新型]基于微电阻测试的PCB板质量检测装置无效
申请号: | 201020504955.8 | 申请日: | 2010-08-25 |
公开(公告)号: | CN201788164U | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 王先锋 | 申请(专利权)人: | 深圳中富电路有限公司 |
主分类号: | G01N27/20 | 分类号: | G01N27/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,在PCB板上设置有多个专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔。所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置还设有2个测试孔,所述的导通孔排成一行,2个测试孔分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连。该基于微电阻测试的PCB板质量检测装置在不破坏PCB板的方式下能快速对PCB板进行检测。 | ||
搜索关键词: | 基于 电阻 测试 pcb 质量 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,其特征在于,在PCB板上设置有多个专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔。
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