[实用新型]薄片类介质的厚度检测装置有效
| 申请号： | 201020200243.7 | 申请日： | 2010-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN201757639U | 公开（公告）日： | 2011-03-09 |
| 发明（设计）人： | 高明;赵振兴;王鑫;胡广东 | 申请（专利权）人： | 山东新北洋信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06;G07D7/16 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚 |
| 地址： | 264209 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种薄片类介质的厚度检测装置，其包括：厚度感应组件，包括枢接至机架的第一支架和设置在第一支架上的与走纸通道中薄片类介质相接触的测厚辊；厚度放大组件，包括枢接在机架上的第二支架，该第二支架与第一支架紧贴接触；以及厚度测量机构，包括设置在第二支架上的磁性元件和设置在机架上并且与磁性元件相对的霍尔传感器。与现有技术相比，本实用新型薄片类介质的厚度检测装置对结构安装空间的要求放宽，其结构形式更加灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 薄片 介质 厚度 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种薄片类介质的厚度检测装置，其特征在于，包括：厚度感应组件，包括枢接至机架的第一支架和设置在所述第一支架上的与走纸通道中薄片类介质相接触的测厚辊；厚度放大组件，包括枢接在所述机架上的第二支架，其中，所述第二支架与所述第一支架紧贴接触；以及厚度测量机构，包括设置在所述第二支架上的磁性元件和设置在所述机架上并且与所述磁性元件相对的霍尔传感器。
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