[实用新型]一种智能掉电测试装置无效
| 申请号： | 201020140103.5 | 申请日： | 2010-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN201666926U | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 陈平;张勇;董祺;胡明洋;周启林 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯朗金能源技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京东正专利代理事务所(普通合伙) 11312 | 代理人： | 李梦福 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种智能掉电测试装置，其包括微处理器、显示屏、电源模块、存储器、继电器、红外通讯模块和掌机，所述微处理器连接控制所述显示屏，所述显示屏显示试验次数；所述微处理器连接控制所述存储器，所述存储器存储掉电试验的脉宽、试验次数；所述微处理器连接控制所述继电器，所述继电器连接在掉电测试电路中；所述掌机包括有红外通讯模块、脉宽设置模块和试验次数设置模块；所述微处理器连接控制所述红外通讯模块与所述掌机红外通讯模块通讯；所述电源模块为智能掉电测试装置供电。本实用新型通过掌机红外通讯设置掉电试验的脉宽、试验次数并存储，LED/LCD显示屏实时显示试验的次数。控制继电器闭合断开实现对后端设备的掉电测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能 掉电 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种智能掉电测试装置，其特征在于：其包括微处理器、显示屏、电源模块、存储器、继电器、红外通讯模块和掌机，所述微处理器连接控制所述显示屏，所述显示屏显示试验次数；所述微处理器连接控制所述存储器，所述存储器存储掉电试验的脉宽、试验次数；所述微处理器连接控制所述继电器，所述继电器连接在掉电测试电路中；所述掌机包括有红外通讯模块、脉宽设置模块和试验次数设置模块；所述微处理器连接控制所述红外通讯模块与所述掌机红外通讯模块通讯；所述电源模块为智能掉电测试装置供电。
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