[实用新型]一种贴片式元器件抗弯性能测试装置有效
| 申请号： | 201020056505.7 | 申请日： | 2010-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN201653820U | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 黄德林;邵庆云;莫小玲 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/20 | 分类号： | G01N3/20 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 喻尚威 |
| 地址： | 518110 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种贴片式元器件抗弯性能测试装置，包括受测试件夹具，其特征在于：还包括固定于所述受测试件夹具上的高度计，以及由两根立式丝杆组成的支架、观测受测试件的表面变化的显微镜、安装在所述支架上用于使所述受测试件夹具在所述支架的立式丝杆上下移动的调节旋钮和用于顶住所述受测试件的顶块，所述显微镜、受测试件夹具和顶块自上而下依次安装在所述支架上，所述高度计可根据受测试件夹具的上下移动情况显示出受测试件的形变量。本实用新型观察直观；能够避免噪音的干扰并大大减小误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 贴片式 元器件 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种贴片式元器件抗弯性能测试装置，包括受测试件夹具，其特征在于：还包括固定于所述受测试件夹具上的高度计，以及由两根立式丝杆组成的支架、观测受测试件的表面变化的显微镜、安装在所述支架上用于使所述受测试件夹具在所述支架的立式丝杆上下移动的调节旋钮和用于顶住所述受测试件的顶块，所述显微镜、受测试件夹具和顶块自上而下依次安装在所述支架上，所述高度计可根据受测试件夹具的上下移动情况显示出受测试件的形变量。
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