[发明专利]一种极薄覆盖层厚度的测量方法无效
| 申请号： | 201010608424.8 | 申请日： | 2010-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102564326A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 程祥勇;廖立新 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业标准件制造有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 贵州国防工业专利中心 52001 | 代理人： | 蔡丽华 |
| 地址： | 550014 贵州*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 一种极薄覆盖层厚度的测量方法，是在金相试样上，采用斜交于覆盖层取样，按照GB6462-86《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》通过显微镜测量试样的厚度值，其试样基体制作方法是：沿垂直于覆盖层的截取面截取试样，得到的截面为检测面，测得其厚度测量值为a，在与覆盖层表面斜交、夹角为α的面截取检测放大面，得到检测放大面，测得其厚度测量值为b，则最终测定值δ＝bsinα。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 覆盖层 厚度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种极薄覆盖层厚度的测量方法，是在金相试样上，采用斜交于覆盖层取样，按照GB6462‑86《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》通过显微镜测量试样的厚度值，其特征在于：沿垂直于覆盖层的截取面截取试样，得到的截面为检测面，测得其厚度测量值为a，在与覆盖层表面斜交、夹角为α的面截取检测放大面，得到检测放大面，测得其厚度测量值为b，则最终测定值δ＝bsinα。
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