[发明专利]一种水分仪被测材料加热方法无效

专利信息
申请号: 201010591355.4 申请日: 2010-12-16
公开(公告)号: CN102129263A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 张翠翠;陈公伦 申请(专利权)人: 上海精密科学仪器有限公司;上海精科天美科学仪器有限公司
主分类号: G05D23/30 分类号: G05D23/30;G01N1/44
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 吴泽群
地址: 200233*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种水分仪被测材料加热方法,包括步骤:获得加热初始温度Tc,设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t,以i表示温度调节次数,得到每个调节周期的平均升温其中调节周期ti=t/i;以PID算法控制加热过程,在第i个调节周期,令PID调节的设定值直至TspμTh为止;保持目标温度Th恒定,直至测试加热结束。本发明解决了水分仪温度控制的难点,即难以到达精确的控制,以及在到达较高的目标温度时,容易发生较多的过冲现象,很难控制其稳定的问题,方便用户对不同的物质材料进行水分测定。
搜索关键词: 一种 水分 仪被测 材料 加热 方法
【主权项】:
1.一种水分仪被测材料加热方法,其特征在于,包括以下步骤:获得加热初始温度Tc,设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t,以i表示温度调节次数,得到每个调节周期的平均升温其中调节周期ti=t/i;以PID算法控制加热过程,在第i个调节周期,令PID调节的设定值直至TspμTh为止;保持目标温度Th恒定,直至测试加热结束。
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