[发明专利]磁式位置检测装置有效

专利信息
申请号: 201010576962.3 申请日: 2010-12-02
公开(公告)号: CN102109359A 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 福冈诚二;木户利尚;铃木启史;毛受良一 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12;G01D5/243
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种磁式位置检测装置,其中,与邻接的磁极面接触的场合相比较,检测精度良好。磁性部件(1a~1d)的磁极面与SV-GMR1~SV-GMR4相对,呈直线状排列。在邻接的磁性部件中,与SV-GMR1~SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a~1d)按照等间距(P)排列,邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a~1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a~1d)的排列间距(P)的比例比如在40%~60%的范围内。
搜索关键词: 位置 检测 装置
【主权项】:
一种磁式位置检测装置,其特征在于其包括磁传感元件与多个磁性部件,该多个磁性部件的磁极面与上述磁传感元件相对而排列;邻接的磁性部件与上述磁传感元件相对一侧的磁极面为相反极性,并且相互间隔开而设置。
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