[发明专利]集成电路测试装置无效
| 申请号： | 201010562837.7 | 申请日： | 2010-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102466777A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 刘甲全 | 申请（专利权）人： | 瑞鼎科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人： | 万学堂;周伟明 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种集成电路测试装置。集成电路测试装置包含复数个输入端、转换模块及输出端。该等输入端用以分别平行地输入复数个低频信号。转换模块用以将该等低频信号转换为复数个高频信号。输出端用以序列地输出该等高频信号。该等高频信号的输出频率与该等低频信号的输入频率的比值是和该等输入端的数目有关。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试装置，包含：复数个输入端，用以分别平行地输入复数个低频信号；一转换模块，耦接该等输入端，用以将该等低频信号转换为复数个高频信号；以及一输出端，耦接该转换模块，用以序列地输出该等高频信号；其中，该等高频信号的输出频率与该等低频信号的输入频率的比值是和该等输入端的数目有关。
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