[发明专利]电路板测试分析报告自动生成系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010561175.1 申请日: 2010-11-26
公开(公告)号: CN102478624A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 王鑫;欧阳本铖;王隆峰 申请(专利权)人: 迈普通信技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 成都虹桥专利事务所 51124 代理人: 李顺德
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及电路板测试技术。本发明针对现有技术电路板测试报告生成方法工作量大,容易出错的缺点,公开了一种电路板测试分析报告自动生成系统及方法。本发明的电路板测试报告生成系统由器件引脚参数输入单元、测试数据检入单元、数据解析单元及测试报告生成单元构成。本发明的电路板测试分析报告自动生成方法,能够根据电路板信号测试用例、测试数据,自动分析测试结果并生成电路板测试报告。本发明用于电路板信号测试,能够提高测试数据分析的效率,同时保证测试数据统计的精确性。
搜索关键词: 电路板 测试 分析 报告 自动 生成 系统 方法
【主权项】:
电路板测试分析报告自动生成系统,包括:器件引脚参数输入单元,用于输入器件引脚信号判断依据;测试数据检入单元,用于检入电路板信号测试数据;数据解析单元,与测试数据检入单元和器件引脚参数输入单元连接,将测试数据与判断依据进行比较,判断测试数据是否符合要求;测试报告生成单元,与数据解析单元连接,根据数据解析单元的判断结果,按照输出规范输出测试结果分析报告。
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