[发明专利]一种电子类设备的自动测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 201010530205.2 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN101986278A 公开(公告)日: 2011-03-16
发明(设计)人: 卞昕;方宏;刘科;周鑫;赵海宁;徐晖;高小珣 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 程立民;张颖玲
地址: 100000 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种电子类设备的自动测试方法及系统,用于解决电子类设备在测试、定期校准以及强制检定过程中,效率低、测试软件的鲁棒性和可扩展性差等技术问题。本发明基于测试子程序的动态加载技术和硬件动态调度技术实现了一种开放式的、可自动优化测试进程的自动测试软件测试方法及系统,使得自动测试软件开发、维护、升级过程标准化、规范化,提升了电子类设备测试和自动校准软件开发效率,提高软件的鲁棒性和可扩展性。实现同时对多台被测设备进行测试时的标准仪器动态调度,最大程度地减少等待标准仪器的时间,提高效率。
搜索关键词: 一种 子类 设备 自动 测试 方法 系统
【主权项】:
一种电子类设备的自动测试系统,其特征在于,该系统包括:服务端,用于根据客户端提交上来的测试任务信息,结合测试任务中的测试项目使用各标准仪器的时间,动态调度各测试任务中的测试项目的执行顺序;客户端,用于设置测试任务参数,向服务端提交测试任务信息,并根据服务端决策的测试任务中的测试项目的执行顺序动态加载对应的测试子程序,执行测试。
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