[发明专利]I2C接口器件测试系统及测试方法无效
| 申请号： | 201010508307.4 | 申请日： | 2010-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN102446128A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 张万宏;朱鸿儒 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种I2C接口器件测试系统及测试方法，该I2C接口器件测试系统用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型。该I2C接口器件测试系统包括终端设备终端设备、通用串行总线及控制单元，该终端设备终端设备用于输入测试命令，该通用串行总线电性连接于终端设备终端设备和控制单元之间，该控制单元通过I2C总线电性连接至待测板，该控制单元解析终端设备终端设备发出的输入测试命令以向待测板发送I2C通信协议数据，并将测试结果按照通用串行总线协议编码后反馈至终端设备终端设备。该I2C接口器件测试系统测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | i2c 接口 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种I2C接口器件测试系统，其用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型，其特征在于：该I2C接口器件测试系统包括终端设备、通用串行总线及控制单元，该终端设备用于输入测试命令，该通用串行总线电性连接于终端设备和控制单元之间，该控制单元通过I2C总线电性连接至待测板，该控制单元解析终端设备发出的输入测试命令以向待测板发送I2C通信协议数据，并将测试结果按照通用串行总线协议编码后反馈至终端设备。
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