[发明专利]RFID标签模拟前端电路的ASK解调器有效

专利信息
申请号: 201010503988.5 申请日: 2010-10-12
公开(公告)号: CN102446286A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 杜涛;朱红卫;彭敏 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G06K19/077 分类号: G06K19/077
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王江富
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种RFID标签模拟前端电路的ASK解调器,包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三PMOS管、第一电容;第一NMOS管、第三PMOS管的栅极接RFID标签的天线;第二NMOS管的栅极接解调使能信号,源极接所述第一NMOS管的漏极;第三PMOS管的源极接RFID标签工作电源,漏极接所述第二NMOS管的漏极、所述第一电容的一端,并作为解调波形输出端;第一NMOS管的源极及所述第一电容的另一端接地。本发明的RFID标签模拟前端电路的ASK解调器,电路简单,成本较低,解调信号不易受噪声的干扰。
搜索关键词: rfid 标签 模拟 前端 电路 ask 解调器
【主权项】:
一种RFID标签模拟前端电路的ASK解调器,其特征在于,包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三PMOS管、第一电容;所述第一NMOS管、第三PMOS管的栅极接RFID标签的天线;所述第二NMOS管的栅极接解调使能信号,源极接所述第一NMOS管的漏极;所述第三PMOS管的源极接RFID标签工作电源,漏极接所述第二NMOS管的漏极、所述第一电容的一端,并作为解调波形输出端;所述第一NMOS管的源极及所述第一电容的另一端接地。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010503988.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top