[发明专利]一种太赫兹波扫描方法和系统

摘要

本发明涉及一种太赫兹波扫描方法和系统。该系统包括扫描反射装置、一、二号折射装置、静反射装置、探测装置，这些装置的反射面或折射面与公共平面垂直；扫描反射装置绕反射面内垂直于公共平面的摆动轴摆动，将太赫兹波反射到一号折射装置的折射面；一、二号折射装置以相同的起始位置、以二者重合的中线为旋转轴、以大小相同方向相反的角速度旋转，其楔角θ₁和θ₂、折射率n₁和n₂以及太赫兹波从物点到达一、二号折射装置折射面的光路长度L₁和L₂满足如下关系：，一、二号折射装置将太赫兹波折射到静反射装置的反射面上；静反射装置将太赫兹波汇聚到位于静反射装置像点处的探测装置。利用本发明的技术方案，能快速对待检测目标进行扫描。

主权项

一种太赫兹波扫描系统，其特征在于，该系统包括扫描反射装置、一号折射装置、二号折射装置、静反射装置和探测装置，其中，所述扫描反射装置和静反射装置的反射面、以及所述一号折射装置和二号折射装置的折射面，均与公共平面垂直；所述扫描反射装置，围绕自身的摆动轴摆动，用于将入射到自身反射面的太赫兹波反射到所述一号折射装置的折射面上；其中，所述摆动轴位于所述扫描反射装置的反射面内，且垂直于所述公共平面；所述一号折射装置和二号折射装置均围绕自身的旋转轴、以大小相同方向相反的角速度旋转，且二者旋转的起始位置相同；其中，所述一号折射装置和二号折射装置的旋转轴重合，且分别为一号折射装置和二号折射装置的中线；所述一号折射装置和二号折射装置的楔角、折射率以及太赫兹波从物点到达所述一号折射装置和二号折射装置的折射面的光路长度满足如下关系： L 1 · tan ( arcsin ( n 1 sin θ 1 ) - θ 1 ) = L 2 · tan ( n 2 sin ( arcsin ( arcsin ( n 1 sin θ 1 ) - θ 1 n 2 + θ 2 ) ) - θ 2 ) 其中，θ1和θ2分别为所述一号折射装置和二号折射装置的楔角，n1和n2分别为所述一号折射装置和二号折射装置的折射率，L1和L2分别为太赫兹波从物点到达所述一号折射装置和二号折射装置的折射面的光路长度；所述一号折射装置用于，将经过所述扫描反射装置反射的太赫兹波折射到所述二号折射装置的折射面上；所述二号折射装置用于，将经过所述一号折射装置折射的太赫兹波折射到所述静反射装置的反射面上；所述静反射装置用于，将经过所述二号折射装置折射的太赫兹波汇聚到所述探测装置处；所述探测装置位于所述静反射装置的像点位置，用于接收所述静反射装置汇聚的太赫兹波。