[发明专利]基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法无效
| 申请号： | 201010298158.3 | 申请日： | 2010-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN101982788A | 公开（公告）日： | 2011-03-02 |
| 发明（设计）人： | 俞洋;向刚;乔立岩;彭喜元 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01C19/00;G05B19/02 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张宏威 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法，它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出。第一、第二MOS管部件并联连接，第一MOS管部件的源极和漏极分别与第二MOS管部件的源极和漏极相连，第一、第二MOS管部件的栅极分别与第一控制信号/GC和第二控制信号GC相连，第一、二控制信号为互为反向的控制信号。它具有延时短和额外面积开销小的优点。它可广泛适用于各种需要对系统芯片的IP核测试的场合。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ieee1500 标准 ip 测试 传输 组件 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件，其特征在于它包括互补金属氧化物半导体传输组件，所述互补金属氧化物半导体传输组件由第一MOS管部件(1)和第二MOS管部件(2)组成；第一MOS管部件(1)和第二MOS管部件(2)并联连接，第一MOS管部件(1)的源极与第二MOS管部件(2)的源极相连，第一MOS管部件(1)的漏极与第二MOS管部件(2)的漏极相连，第一MOS管部件(1)的源极即为互补金属氧化物半导体传输组件的数据信号输入端，第一MOS管部件(1)的漏极即为互补金属氧化物半导体传输组件的数据信号输出端；第一MOS管部件(1)的栅极通过非门与第一控制信号/GC相连，第二MOS管部件(2)的栅极与第二控制信号GC相连，所述第一控制信号/GC与第二控制信号GC为互为反向的控制信号。
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