[发明专利]适用于光电检测的差分测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201010296529.4 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102288550A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 张国胜;张知劲 申请(专利权)人: 张国胜
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 张卫华
地址: 102205 北京市昌*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种适用于光电检测的差分测量方法及装置。其方法包括步骤:1)选择与待测化学物质在光谱上的某个特征波谱峰相重叠的范围作为共振波带;2)将包含共振波带但比共振波带更宽的范围作为参考波带,且这个范围不与待测化学物质在光谱上的其它波谱峰相重叠;3)测定待测电磁波信号在共振波带的强度I1和参考波带的强度I2;4)比较I1和(I2-I1),确定检测结果。如因共振波带太宽而影响检测效果,则不执行步骤4)而执行下列步骤:5)设定比上述共振波带窄、更具有代表性的波长范围作为第二共振波带,6)测定待测电磁波信号在第二共振波带内的强度I1′,7)比较I1′和(I2-I1)。所述装置包括单光路系统和多光路系统。本发明可有效提高检测灵敏度和精度,降低相关光学器件的制作难度。
搜索关键词: 适用于 光电 检测 测量方法 装置
【主权项】:
一种适用于光电检测的差分测量方法,其特征在于包括如下步骤:1.1)选择与待测化学物质在光谱上的某一个特征波谱峰相重叠的范围作为共振波带;1.2)将包含共振波带但比共振波带更宽的范围作为参考波带,且这个范围不与待测化学物质在光谱上的其它波谱峰相重叠;1.3)分别测定待测电磁波信号在共振波带上的强度I1和在参考波带上的强度I2;1.4)比较I1和I2‑I1,确定检测结果。
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