[发明专利]阵列测试装置无效
| 申请号： | 201010291871.5 | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102117589A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 朴廷喜 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文公开一种阵列测试装置。阵列测试装置包括探针组件。探针组件包括设置为能够沿基板输送方向移动的探针组件框架、以及以可拆卸的方式设置在探针组件框架上的托架。托架具有探针头，探针头的每一个配备有探针引脚。因此，阵列测试装置能够有效地应对大尺寸基板。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列测试装置，包括：测试单元，所述测试单元测试基板的缺陷；基板输送单元，所述基板输送单元向所述测试单元输送所述基板；以及探针组件，所述探针组件将电信号施加至形成在所述基板上的电极，其中，所述探针组件包括：探针组件框架，所述探针组件框架设置为能够沿所述基板的输送方向移动；以及托架，所述托架以可拆卸的方式设置在所述探针组件框架上，所述托架具有探针头，所述探针头配备有将接触所述基板的所述电极的探针引脚。
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