[发明专利]一种结构最简的GPTC过电流保护电路无效
申请号: | 201010288163.6 | 申请日: | 2010-09-21 |
公开(公告)号: | CN102412549A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 付云鹏;刘蓓珍;胡方 | 申请(专利权)人: | 付云鹏;刘蓓珍;胡方 |
主分类号: | H02H3/08 | 分类号: | H02H3/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种由半导体集成工艺制造的GPTC过电流保护电路,其结构仅由限流电阻R、PN结组合DE和N沟道增强型场效应管(N-MOS)T三者组成。其中,限流电阻R与PN结组合DE相串联,构成“温度采样”支路,并由限流电阻R设定保护温度。被保护的用户负载RL与N-MOS相串联,构成“负载控制”支路。正常工作时,N-MOS处于导通状态,为用户负载RL提供额定的功率输出。过电流发生时,N-MOS处于截止状态,实现对过电流的保护。该GPTC过电流保护电路的结构最简,保护特性优异:如导通电阻小,功耗小。温度灵敏度高,动态相应快。可克服传统PPTC过电流保护电路的种种弊端,高效地实现过电流保护。 | ||
搜索关键词: | 一种 结构 gptc 电流 保护 电路 | ||
【主权项】:
一种由半导体集成工艺制造的GPTC过电流保护电路,其结构仅由限流电阻R、PN结组合DE和N沟道增强型场效应晶体管(N‑MOS)T三者组成。其特征是:限流电阻R与PN结组合DE相串联,构成“温度采样”支路,并由限流电阻R设定保护温度。被保护的用户负载RL与N‑MOS相串联,构成“负载控制”支路,为用户负载RL提供额定的功率输出。其中,N‑MOS的工作状态转换由温度采样信号设定与控制,用以实现对过电流的定温保护。
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