[发明专利]基于BSO晶体的差流检测方法及实现此方法的装置无效
申请号: | 201010283298.3 | 申请日: | 2010-09-16 |
公开(公告)号: | CN101975882A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 申岩;郭志忠;张国庆;于文斌;路忠峰;吴磊 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G02B27/28 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张果瑞 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于BSO晶体的差流检测方法及实现此方法的装置,涉及一种差流测量方法和装置。解决了现有的电流传输异常检测的光学探测仪器存在光在传播过程中受电磁干扰、测量准确率低、成本高的问题,所述方法具体如下:一、第一偏振光束和第二偏振光束分别垂直入射至第一BSO旋光晶体和第二BSO旋光晶体上;二、出射的光束同时入射至光电探测器上,由光电探测器上是否出现干涉条纹判断电流是否出现异常传输。所述装置,第一光源和第二光源发出的光束分别垂直入射至第一BSO旋光晶体和第二BSO旋光晶体的中心位置,出射光传输至光电探测器的光敏面。本发明适用于电流传输异常检测领域。 | ||
搜索关键词: | 基于 bso 晶体 检测 方法 实现 装置 | ||
【主权项】:
基于BSO晶体的差流检测方法,其特征在于具体过程如下:步骤一、第一偏振光束(1‑1)和第二偏振光束(2‑1)分别垂直入射至第一BSO旋光晶体(3)和第二BSO旋光晶体(4)光接收表面的中心位置,所述第一偏振光束(1‑1)和第二偏振光束(2‑1)为两束具有相同频率和相同强度的偏振光,并且第一偏振光束(1‑1)和第二偏振光束(2‑1)的偏振方向正交,所述第一BSO旋光晶体(3)和第二BSO旋光晶体(4)分别设置在同一根输电线的周围,并且设置在同一根输电线的不同位置,距离输电线的距离相等,并且在输电线中传输电流产生的磁场范围内;步骤二、第一BSO旋光晶体(3)出射的光束和第二BSO旋光晶体(4)出射的光束同时入射至光电探测器(7)的光接收面上,若光电探测器(7)探测到干涉条纹,则电线中的电流出现异常传输;若光电探测器(7)未探测到干涉条纹,则电线中的电流正常传输。
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