[发明专利]同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法和装置

摘要

一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法和装置，方法步骤为，将SIM卡编号插入2～4部终端；使综合测试仪处于等待终端开机入网状态，将SIM卡标记的终端与综合测试仪进行射频连接，给终端上电；将终端各自的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI建立对应关系；将综合测试仪的网络系统参数中上下行子帧配置选择为配置1或配置0；在无线帧中的对应子帧上以DCI格式0分别传输各终端的下行PDCCH信号，通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号；综合测试仪分析该PUSCH的射频性能。该装置包括主控单元、系统模拟器和射频处理单元，射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元。本发明使得一综合测试仪可同时对多部终端进行射频性能测试，且信号间干扰较小。

主权项

一种用于同时测试多部TD‑LTE终端射频性能的方法，其特征在于它包括如下步骤：1)打开TD‑LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD‑LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD‑LTE终端入网所需的系统参数，使TD‑LTE终端综合测试仪处于等待TD‑LTE终端开机入网的状态，系统参数中上下行子帧配置为配置1，即1个无线帧有4个下行子帧，4个上行子帧，2个同步子帧，或系统参数中上下行子帧配置为配置0，即1个无线帧有2个下行子帧，6个上行子帧，2个同步子帧；将SIM卡编号后插入待测的2～4部TD‑LTE终端中，按照所述SIM卡依次标记相应的TD‑LTE终端；将TD‑LTE终端与TD‑LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD‑LTE终端上电，进行TD‑LTE终端的开机入网信令流程；2)在TD‑LTE终端开机入网信令流程中，TD‑LTE终端综合测试仪通过NAS信令查询到所述TD‑LTE终端中SIM卡的IMSI号，并与入网流程中分配给各TD‑LTE终端的S‑TMSI号和C‑RNTI标识号相关联，以此识别TD‑LTE终端是哪一部TD‑LTE终端；通过这个过程，TD‑LTE终端、TD‑LTE终端各自的SIM卡IMSI号、S‑TMSI号和C‑RNTI建立了一一对应关系，用于在时域上区分测试的是哪部TD‑LTE终端的信号；3)TD‑LTE终端综合测试仪寻呼各TD‑LTE终端并建立专用的无线承载；当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，无线帧中的子帧#1、子帧#4、子帧#6、子帧#9上以DCI格式0分别传输各TD‑LTE终端的下行PDCCH信号；当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，无线帧中的子帧#0、子帧#1、子帧#5、子帧#6上以DCI格式0分别传输各TD‑LTE终端的下行PDCCH信号；然后通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各TD‑LTE终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号；4)TD‑LTE终端综合测试仪利用系统模拟器的数据采集触发信号采集TD‑LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD‑LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD‑LTE终端的射频性能指标的参数值。