[发明专利]一种纳米工艺标准单元延迟参数提取方法

摘要

本发明公开的一种纳米工艺标准单元延迟参数提取方法，步骤包括：(1)穷举标准单元输入组合得到测试激励波形；(2)通过反向器驱动标准单元各输入获得高仿真输入信号；(3)通过二分迭代方法确定标准单元最大驱动负载，选择7个输出驱动负载和7个输入信号斜率构成7×7的测试点组合表；提取输出信号到达电源电压50％的时刻点与输入信号到达电源电压50％的时刻点之间的时间差得到延迟参数；(4)对各组激励波形重复步骤(3)提取标准单元所有延迟参数。本发明可得到完备的精简测试激励，能够加快参数提取；避免分段线性波形导致的误差，提高了参数提取精度；通过指数分布的方法选择7×7的测试点能够有效地表征标准单元延迟参数曲面空间。

主权项

一种纳米工艺标准单元延迟参数提取方法，包括以下步骤：(1)穷举标准单元输入组合，将各输入组合经布尔运算获得标准单元真值表；两两比较真值表各行，将只有一个变量值不同、且输出不同的两行形成逻辑激励波形组合。对所有逻辑激励波形组合，分别将组合中对应真值表行的各输入值输出，对比另一行输入组合值中不同的输入端，该输入端从“0”变化到“1”则对应位为“r”，从“1”变化到“0”则对应位为“f”，其他位不变输出，形成测试激励波形；(2)通过反向器单元驱动标准单元的输入，由设置反向器输出端负载电容控制标准单元输入端信号斜率：通过二分迭代的方法由spice仿真确定反向器最大输出负载；以输入信号斜率为确定值，反向器输出负载在0到最大输出负载之间均匀取900个测试点，提取反向器的1×900的延迟参数表；通过线性插值计算目标斜率输入信号对应的反向器负载控制电容值；(3)标准单元各输入端由反向器驱动，通过设置反向器输出负载获得特定斜率的输入信号，搭建高仿真测试电路；确定标准单元的最小驱动负载、最大驱动负载、最小输入信号斜率和最大输入信号斜率，在最小驱动负载与最大驱动负载之间按2的幂指数分布选择7个输出驱动负载，在最小输入信号斜率和最大输入信号斜率之间按2的幂指数分布选择7个输入信号斜率，将每个输出驱动负载和各个输入信号斜率组合，构成7×7的测试点组合表；输入信号斜率经步骤(2)线性插值转换成对应驱动反向器的输出负载值；在spice仿真时，输出信号到达电源电压50％的时刻点与输入信号到达电源电压50％的时刻点之间的时间差，就是标准单元在特定输入信号斜率和特定输出负载情况下的延迟参数；(4)对各组激励波形重复步骤(3)，提取标准单元所有组合情况下的延迟参数。