[发明专利]测试装置有效
申请号: | 201010253365.7 | 申请日: | 2010-08-12 |
公开(公告)号: | CN102278941A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | 刘荣玙;刘俊良;周来平 | 申请(专利权)人: | 思达科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01N21/88 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 郑小军;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明的一实施例的测试装置包含一壳体;至少一探针载台,设置于该壳体内且经配置以承接至少一探针;一元件承座,设置于该壳体内且经配置以承接一待测半导体元件;以及一检视模块,具有一预定视野且经配置以提取至少该待测半导体元件的图像。在本发明的一实施例中,该探针载台包含一驱动单元,经配置以于一映象阶段中移动该探针,使得该探针离开该检视模块的焦点,较佳地,离开该检视模块的聚焦深度,并保持该待测半导体元件在检视模块的视野内,进而实现在承载探针时进行元件映象功能。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种测试装置,包含:一壳体;至少一探针载台,设置于该壳体内且经配置以承接至少一探针;一元件承座,设置于该壳体内且经配置以承接一待测半导体元件;以及一检视模块,具有一预定视野且经配置以提取至少该待测半导体元件的图像;其中该探针载台包含一驱动单元,其经配置以于一映象阶段中移动该探针,使得该探针离开该检视模块的焦点。
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