[发明专利]光刻设备和监控方法有效

专利信息
申请号: 201010239624.0 申请日: 2010-07-27
公开(公告)号: CN101989049A 公开(公告)日: 2011-03-23
发明(设计)人: B·J·克拉塞斯;P·范德维恩;H·P·高德福莱德 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明公开了一种光刻设备和监控方法,所述光刻设备包括辐射束监控设备,所述辐射束监控设备包括被配置以产生衍射图案的光学元件和成像检测器,所述成像检测器被设置在所述光学元件的后面,但不在所述光学元件的焦平面中,使得所述成像检测器能够检测所述辐射束的空间相干性和发散度的综合结果。
搜索关键词: 光刻 设备 监控 方法
【主权项】:
一种光刻设备,所述光刻设备包括辐射束监控设备,所述辐射束监控设备包括:光学元件,所述光学元件被配置以产生衍射图案;和成像检测器,所述成像检测器被设置在所述光学元件的后面,但不位于所述光学元件的焦平面中,使得所述成像检测器能够检测所述光刻设备的辐射束的空间相干性和发散度的综合结果。
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