[发明专利]非晶磁芯微型磁通门传感器的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010239122.8 申请日: 2010-07-28
公开(公告)号: CN101885467A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 雷冲;周勇 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01R33/04
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种微机电系统技术领域的非晶磁芯微型磁通门传感器的制备方法,在衬底的一面溅射Cr/Cu底层;旋涂正胶、烘干;得到激励线圈和感应线圈的底层线圈以及定位标记的光刻胶图形;电镀底层线圈和定位标记;旋涂正胶得到连接导体和定位标记的光刻胶图形;电镀连接导体和定位标记;去光刻胶,刻蚀Cr/Cu底层;旋涂聚酰亚胺;旋涂聚酰亚胺,逐个粘贴预制非晶软磁合金磁芯,烘干;旋涂聚酰亚胺、烘干固化;抛光聚酰亚胺,直到连接导体暴露为止;溅射Cr/Cu底层;旋涂正胶、烘干;得到激励线圈和感应线圈的顶层线圈及电极的光刻胶图形;电镀底层线圈和电极;去光刻胶,刻蚀Cr/Cu底层,得到的传感器灵敏度高、线性测量范围宽。
搜索关键词: 非晶磁芯 微型 磁通门 传感器 制备 方法
【主权项】:
一种非晶磁芯微型磁通门传感器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步、在衬底的一面溅射Cr/Cu底层,下面工艺均在此面上进行;第二步、旋涂正胶、烘干;曝光、显影,得到激励线圈和感应线圈的底层线圈以及定位标记的光刻胶图形;电镀底层线圈和定位标记;第三步、旋涂正胶、烘干;曝光、显影,得到连接导体和定位标记的光刻胶图形;电镀连接导体和定位标记;去光刻胶,刻蚀Cr/Cu底层;第四步、旋涂聚酰亚胺、烘干固化;旋涂聚酰亚胺,逐个粘贴预制非晶软磁合金磁芯,烘干;第五步、旋涂聚酰亚胺、烘干固化;抛光聚酰亚胺,直到连接导体暴露为止;第六步、溅射Cr/Cu底层;旋涂正胶、烘干;曝光、显影,得到激励线圈和感应线圈的顶层线圈及电极的光刻胶图形;电镀底层线圈和电极;去光刻胶,刻蚀Cr/Cu底层。
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